Уважаемые коллеги!
Продолжает работу постоянно действующий Международный научно-исследовательский семинар «Анализ и понимание изображений (Математические, когнитивные и прикладные проблемы анализа изображений и сигналов)».
Очередное заседание семинара состоится 24 января 2017г. в 16:00 по адресу: ВЦ РАН ФИЦ ИУ РАН, ул. Вавилова, д. 40, 3-й этаж, конференц-зал.
Докладчик – д.ф.–м.н. Обухов Юрий Владимирович (Институт радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова РАН, Москва)
Тема доклада
«ЧАСТОТНО-ВРЕМЕННОЙ АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОЭНЦЕФАЛОГРАММ В ДИАГНОСТИКЕ ПАТОЛОГИЙ ГОЛОВНОГО МОЗГА»
Аннотация
В докладе рассматриваются вопросы выделения признаков патологий мозга в вейвлет спектрограммах фоновых электроэнцефалограмм на примерах диагностики раннего паркинсонизма и посттравматической эпилепсии. В качестве примеров признаков патологий головного мозга обсуждаются особенности распределения экстремумов вейвлет спектрограмм и формы их хребтов.Приводятся результаты классификации и распознавания ранней клинической стадии болезни Паркинсона методом логистической регрессии в пространстве электроэнцефалографических признаков. Рассмотрены вопросы автоматического детектирования и классификации сонных веретен и посттравматических эпилептических разрядов в долговременных (несколько суток) записях электроэнцефалограмм.
Приглашаются все желающие!
Контакты для связи: тел. (499) 135-90-33, (916) 787-18-00, e-mail: werayashina@gmail.com
Международная деятельность
Новости Управление международно-технического сотрудничества ФИЦ ИУ РАН
